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       检测中心经过多年发展,技术底蕴深厚。拥有国内外先进的测试设备1500余台(套),可满足常用各类元器件测试需求;开发各类电子元器件测试程序40000余种,基本覆盖常用的器件种类;可为用户提供测试、评估、质量保证的成套方案。引进国际领先的V93K测试平台,UltraFlex超大规模集成电路测试系统,T800集成电路测试系统,能够满足大规模集成电路的测试需求。拥有专业的测试程序开发团队,保证测试程序开发的质量与进度。

 

· 备注:检测中心每天都在开发新的器件程序,如有需要请直接拨打我中心电话进行咨询!

 

主要测试筛选器件类型:
微处理器(86系列、51系列、TMS320F2812、TMS320LF2407、TMS320C6713系列等)
存储器系列(EPROM、SRAM、DRAM、MRAM、DDR、FLASH、NOR FLASH、NAND FLASH、FIFO等);
可编程逻辑器件(GAL、PAL、CLPD、FPGA等);
总线接口类(RS-232、RS-422/485、LVDS、CAN、PCI、以太网);
通用数字电路(CMOS 4000系列、54/74系列、80系列);
通用模拟器件(运算放大器、电压比较器、跟随器系列、压控振荡器);
模拟开关与多路复用器;
定时器、时钟发生器与分配器;
数模转换器(A/D、D/A、SRD);
电源类(线性稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等);
驱动器、数码管、压控振荡器;光电类(光电耦合器、图像传感器);
通讯电路系列、电视机和音响电路;
半导体分立器件(二极管、三极管、场效应管等);

 

 

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  • 高频射频器件能力:
               E5061B测试频率范围:5Hz~500MHz
               E5071C测试频率范围:300KHz~20GHz
               可测类型:LC滤波器、介质滤波器、腔体滤波器、晶体滤波器、声表滤波器等。
               可测试参数:插入损耗、驻波比、带外抑制、通带带宽、通带波动、群延时、Q值、相位一致性。

 

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  •    93K简介

  •        测试通道:512 路通道,可自由升级;

  •        测试速度:1600M bps数据速率

  •        支持多种测试速度的通道板卡混插;

  •        模拟测试:各类丰富的模拟测试模块可供选择;

  •        RF射频测试:可支持4~8颗器件的并行测试;

  •        支持高速数字、模拟、复杂混合信号、 Memory、单片机、CPLD、FPGA、DSP等各类应用;

 

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  •  T800 简介   

  •     极大规模SOC集成电路测试系统T800测试系统适用于后道的FT测试、前道的CP测试和科研院所的IC验证及筛选测试,完成集成电路的DC、AC参数测试和器件功能性测试。

  • 主要性能参数:

  • (1)最高可达896路测试通道的测试头

  • (2)400Mbps(可拓展至800Mbps)的测试速率,适用于全部I/O口,且可差分应用

  • (3)每pin脚有64M(可拓展至128M)的向量存储深度 
    (4)每个pin脚的全参数测量单元
    (5)13V高电压的图形同步通道
    (6)模拟测试资源有24bit/16bit的8路AWG/Digtzer
    (7)32路数字程控电源,电压±10V,电流±1A,可并联使用
    (8)TMU时间测量单元

 

 

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  •   设备名称:超大规模混合集成电路测试系统

  •   生产厂家:美国 Credence

  •   设备型号:Sapphire

  •   主要用途:用于测试大规模集成电路

 

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  •   设备名称:UltraFlex超大规模集成电路测试系统

  •   UltraFlex简介

  •   测试通道:最高2048路通道,可自由升级;

  •   测试速度:2200M bps数据率

  •   支持高速数字模拟、复杂混合信号、 Memory、单片机、CPLD、FPGA、DSP等各类应用;

 

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