检测中心经过多年发展，技术底蕴深厚。拥有国内外先进的测试设备2000余台(套)，可满足常用各类元器件测试需求；开发各类电子元器件测试程序40000余种，基本覆盖常用的器件种类；可为用户提供测试、评估、质量保证的成套方案。引进国际领先的V93K测试平台，UltraFlex超大规模集成电路测试系统，T800集成电路测试系统，能够满足大规模集成电路的测试需求。拥有专业的测试程序开发团队，保证测试程序开发的质量与进度。
备注：检测中心每天都在开发新的器件程序，如有需要请直接拨打我中心电话进行咨询！
主要测试筛选器件类型:
微处理器 (86系列、51系列、TMS320F2812、TMS320LF2407、TMS320C6713系列等)；
存储器系列 (EPROM、SRAM、DRAM、MRAM、DDR、FLASH、NOR FLASH、NAND FLASH、FIFO等)；
可编程逻辑器件 (GAL、PAL、CLPD、FPGA等)；
总线接口类 (RS-232、RS-422/485、LVDS、CAN、PCI、以太网)；
通用数字电路 (CMOS 4000系列、54/74系列、80系列)；
通用模拟器件 (运算放大器、电压比较器、跟随器系列、压控振荡器)；
模拟开关与多路复用器；
定时器、时钟发生器与分配器；
数模转换器 (A/D、D/A、SRD)；
电源类 (线性稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等)；
驱动器、数码管、压控振荡器；光电类（光电耦合器、图像传感器)；
通讯电路系列、电视机和音响电路；
半导体分立器件 (二极管、三极管、场效应管等)；
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高频射频器件能力： E5061B测试频率范围：5Hz~500MHz | |
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93K简介 测试通道：512 路通道，可自由升级； 测试速度：1600M bps数据速率； 支持多种测试速度的通道板卡混插； 模拟测试：各类丰富的模拟测试模块可供选择； RF射频测试：可支持4~8颗器件的并行测试； 支持高速数字、模拟、复杂混合信号、 Memory、单片机、CPLD、FPGA、DSP等各类应用； | ||
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T800 简介 极大规模SOC集成电路测试系统T800测试系统适用于后道的FT测试、前道的CP测试和科研院所的IC验证及筛选测试，完成集成电路的DC、AC参数测试和器件功能性测试。 主要性能参数： （1）最高可达896路测试通道的测试头； （2）400Mbps(可拓展至800Mbps)的测试速率，适用于全部I/O口，且可差分应用； （3）每pin脚有64M(可拓展至128M)的向量存储深度 ； （4）每个pin脚的全参数测量单元； （5）13V高电压的图形同步通道； （6）模拟测试资源有24bit/16bit的8路AWG/Digtzer； （7）32路数字程控电源，电压±10V,电流±1A,可并联使用； （8）TMU时间测量单元；
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设备名称：大规模集成电路测试系统 生产厂家：泰瑞达 设备型号：J750 主要用途：超大规模集成电路芯片测试，包括package和晶园测试、处理器芯片；大规模系统级芯片测试，包括各种高速模拟单元、射频单元 | |
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设备名称：UltraFlex超大规模集成电路测试系统 UltraFlex简介 测试通道：最高2048路通道，可自由升级 测试速度：2200M bps数据率 支持高速数字模拟、复杂混合信号、 Memory、单片机、CPLD、FPGA、DSP等各类应用 | |
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